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  • 2024

    12-3

    半导体材料作为现代科技的基石,承载着信息技术的蓬勃发展。下面将深入探讨半导体材料的特性、广泛应用领域及其未来的发展趋势,揭示这一关键材料的科学与技术奥秘。半导体材料是一类具有特殊电学和光学性质的物质,其导电性介于导体和绝缘体之间。这种性能源自其内部的电子结构,使得半导体在光照或温度变化等外界因素刺激下,能够显著改变自身的导电状态。这一特性为半导体设备如晶体管、太阳能电池等的运作提供了基础。1、计算与通信:半导体是现代电子设备的心脏,从个人计算机和智能手机到数据中心和云计算服务...

  • 2024

    11-19

    脉冲激光沉积(PulsedLaserDeposition,PLD)是一种用于薄膜制备的技术,通过激光脉冲将材料靶材蒸发或离化,并将其沉积到基板上。样品台在PLD系统中负责支撑和加热沉积基板,并在沉积过程中控制基板的温度和位置。为了保证脉冲激光沉积系统的高效稳定运行,样品台的正确操作和维护至关重要。以下是脉冲激光沉积样品台的操作和保养规程:一、操作规程1.安装和准备检查安装情况:在每次使用前,确保样品台安装牢固,连接稳定,电源线、温控线、信号线等接口正确连接,确保没有松动。样品...

  • 2024

    11-17

    德国电子束曝光工艺流程是怎样的?1、准备阶段:在开始电子束曝光之前,需要准备好所需的材料和设备。这包括电子束发生器、样品台、真空系统、电源等。同时,还需要对样品进行预处理,如清洗、涂覆光刻胶等。2、设置参数:根据实验需求,设置电子束的能量、束流密度、扫描速度等参数。这些参数的选择会影响到曝光的效果和效率。3、放置样品:将经过预处理的样品放置在样品台上,并调整其位置,使其与电子束的焦点对齐。4、启动电子束:打开电子束发生器的电源,产生高能电子束。这些电子束会通过电磁透镜聚焦成一...

  • 2024

    11-11

    SENTECH二维材料刻蚀工艺是半导体制造和纳米技术中的一个重要环节,它涉及到使用化学或物理方法去除材料表面的部分区域,以形成所需的图案或结构。以下是二维材料刻蚀工艺的基本流程:1、准备阶段:在开始刻蚀之前,需要准备好所需的材料和设备。这包括刻蚀机、掩膜版、化学试剂(如刻蚀液)、清洗设备等。同时,还需要对样品进行预处理,如清洗、涂覆光刻胶等。2、涂覆光刻胶:将光刻胶均匀地涂覆在样品表面。光刻胶是一种光敏性材料,它在紫外光照射下会发生化学反应,从而改变其溶解性。3、曝光:使用掩...

  • 2024

    11-1

    场发射显微镜(简称FESEM)是一种利用二次电子或背散射电子成像的高精度显微镜。以下是其工作原理:1、电子束产生:场发射扫描电镜通常使用钨丝作为电子源。在加热到高温时,钨丝中的电子获得足够的能量克服逸出功从表面逸出,形成电子束。电子枪产生的电子束经过一系列的电磁透镜聚焦,形成一个极细的高能电子束。2、样品扫描:高能电子束以光栅状扫描方式照射到样品表面。由于高能电子束与样品相互作用,会激发出各种物理信号,包括二次电子、背散射电子、X射线等。3、信号检测:不同类型的探测器用于接收...

  • 2024

    10-24

    感应耦合电浆(InductivelyCoupledPlasma,ICP)蚀刻技术是一种常用于微电子和半导体制造中的材料去除技术。监测这项技术的过程对于确保产品质量和工艺稳定性至关重要。以下是关于ICP蚀刻监测技术的详细介绍。1.ICP蚀刻技术概述ICP蚀刻是一种利用高频电流在气体中产生等离子体,从而实现对材料的选择性去除的方法。该技术广泛应用于半导体制造、MEMS(微电子机械系统)和纳米技术等领域。其主要优点包括:高选择性:能够在不同材料之间实现精确的蚀刻。良好的均匀性:能够...

  • 2024

    10-17

    X射线显微镜成像原理主要基于材料对X射线的衍射、散射和吸收特性。以下是对其原理的具体分析:1、衍射原理:当高能X射线通过材料时,会观察并收集它们衍射的图样,从而获得有关材料内部结构的信息。2、散射原理:X射线与样品中的原子相互作用后,以同样的能量返回,提供了有关材料表面和内部结构的信息。非弹性散射则在X射线与物质原子相互作用后,能量发生改变,提供了有关材料中电子和元激发态的信息。3、吸收原理:材料对不同能量的X射线有不同的吸收特性。被物质吸收的X射线会被探测器捕捉到,形成成像...

  • 2024

    10-14

    半导体材料分析主要涉及对材料的物理、化学和电学性能以及结构特性的全面检测和评估。以下是具体介绍:一、物理性能测试1、光谱分析:通过测量材料对特定波长光的吸收、发射或散射特性,来识别和定量分析材料中的元素。这种方法对于快速分析半导体材料的元素组成非常有效。2、X射线衍射:利用X射线与材料晶格发生弹性散射时产生的衍射现象,获取材料的晶体结构信息。这是一种无损、快速且准确的晶体结构分析方法。3、电子显微镜技术:包括扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。SEM通过电子束...

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