自动光谱椭偏仪SENDURO®所有的全自动光谱椭偏免除了用户根据高度和倾斜度手动地对准样品的麻烦，这对于高精度和可重复的光谱椭偏是必要的。

红外光谱椭偏仪SENDIRA利用红外光谱中分子振动模的吸收带，可以分析薄膜的组成。此外，载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。

低成本高效益的光谱椭偏仪SENpro覆盖宽的光谱范围，从190 nm(深紫外)到3500 nm(近红外)。傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200μm的厚膜。

椭偏反射仪 性能优异的多角度手动角度计和角度精度*的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。

光谱椭偏仪 我们的自动扫描的选项具有预定义或用户定义的模式、广泛的统计以及数据的图形显示，如2D颜色、灰度、轮廓、+/-偏离平均值和3D绘图。

光谱椭偏仪 SENDURO® 所有的全自动光谱椭偏免除了用户根据高度和倾斜度手动地对准样品的麻烦，这对于高精度和可重复的光谱椭偏是必要的。该的自动对准传感器大大减少了操作误差，适用于透明和反射样品，即使在弯曲的样品上也可实现自动扫描。

光谱椭偏仪 SENDIRA用于测量薄膜厚度，折射率，消光系数以及体材料，单层和多层堆叠膜的相关特性。特别是覆盖层下面的层在可见范围内是不透明的，现在也可以进行测量。同时可以分析材料的组成和大分子基团和分子链的走向。

光谱椭偏仪 SENpro具有操作简单，测量速度快，能对不同入射角的椭偏测量数据进行组合分析等特点。光谱范围为370到1050 nm。SENpro的光谱范围与精密的SpectraRay/4软件相结合，可以轻易地确定单层膜和复合层叠膜的厚度和折射率。