X射线发射光谱仪 XEScope

X射线发射光谱仪 XEScope是一种能对元素的化学状态进行定量、定性分析的表征设备，凭借精准的检测能力和便捷的操作体验，为多领域元素价态研究提供可靠技术支撑。

●超高灵敏度：可精准捕捉低含量(0.1 wt%)成分信息。

●高能量分辨率：≤0.5 eV，信号识别精准。

●化学态分辨：清晰区分同一元素的不同价态（如Si²+/Si4+、S²-/S⁶+），解析化学性质。

●原位测试：动态反应机理研究，精准还原成分分布、化学态变化的原位特征。

●覆盖元素广：可分析从轻元素（如Al、Si）到重元素（如U、Pb），满足多领域需求。

●无损检测：无需破坏样品结构，适用于珍贵/稀有样品分析。

●用户界面友好：集成化软件，操作简单易上手。

X射线发射光谱仪 XEScope概述

聚焦表面价态信息，多样品形态兼容

●表面信息精准捕捉：核心聚焦样品表面元素组成与化学态，无需深度穿透，直接获取表层关键数据，适用于涂层、薄膜等表面研究场景。

●多形态样品无门槛：兼容固体（如块状、片状）、液体（如溶液、乳液）、粉末等多种形态，无需客户进行研磨、溶解等复杂前处理，直接上机测试。

●低量低含量友好：样品需求量低至5 mg，微小晶体、少量粉末等特殊形态均可适配；支持质量分数为0.1%的样品检测，检测范围广。

集成化软件，精准定量分析

●操作便捷性：可实现全流程简化操作——从测试条件确认到实际的数据解析无需复杂专业操作，用户界面友好，极简培训需求。

●集成化软件：配备功能完善的分析软件，支持自动能量校准、拟合解析和定量分析，支持对同一元素对应的多组样品进行批量检测，软件可批量计算分析结果并生成标准化报告，大幅提升检测效率。

价态定量分析

●价态分析：利用标准样进行能量校准和价态的定量偏移，可以求得测试样品的价态信息

●占比分析：通过测试样和标准样的线性拟合，可计算测试样品中的各价态含有量的比例

全自动化测试，覆盖元素广泛

●晶体自动切换:配备了晶体自动切换功能，可搭载6块分析晶体，能够覆盖1.2 K eV-5 K eV的能量范围。

●覆盖元素广泛:能够对原子序数为13(Al)-23(V)和31(Ga)-90(U)的广泛元素实现价态分析，其检测范围主要包括

13(Al)-23(V)的K光谱线、31(Ga)-59(Pr)的L光谱线和61(Pm)-90(U)的M光谱线，满足从轻元素到重元素的多样化检测需求。

表征方式特征比较